Electrical characterization of Al/SnO2/PbO/Si double layer MOS under the moderate radiation effect

Akay D., Alkan S., Altin Z., Gökmen U., Ocak S. B.

RADIATION PHYSICS AND CHEMISTRY, cilt.216, ss.1-19, 2024 (SCI-Expanded, Scopus)

• Yayın Türü: Makale / Tam Makale
• Cilt numarası: 216
• Basım Tarihi: 2024
• Doi Numarası: 10.1016/j.radphyschem.2023.111392
• Dergi Adı: RADIATION PHYSICS AND CHEMISTRY
• Derginin Tarandığı İndeksler: Science Citation Index Expanded (SCI-EXPANDED), Scopus, Academic Search Premier, Aerospace Database, Chemical Abstracts Core, Chimica, Communication Abstracts, Compendex, INSPEC, Metadex, Pollution Abstracts, Civil Engineering Abstracts
• Sayfa Sayıları: ss.1-19
• Ankara Üniversitesi Adresli: Evet