Sinkrotron Işınımı: Depolama Halkasından Sert X-ışını Demet Hattına
Uludağ Üniversitesi Mühendislik Fakültesi Dergisi, cilt.24, sa.3, ss.75-87, 2019 (TRDizin)
- Yayın Türü: Makale / Tam Makale
- Cilt numarası: 24 Sayı: 3
- Basım Tarihi: 2019
- Doi Numarası: 10.17482/uumfd.534761
- Dergi Adı: Uludağ Üniversitesi Mühendislik Fakültesi Dergisi
- Derginin Tarandığı İndeksler: TR DİZİN (ULAKBİM)
- Sayfa Sayıları: ss.75-87
- Açık Arşiv Koleksiyonu: AVESİS Açık Erişim Koleksiyonu
- Ankara Üniversitesi Adresli: Evet
Özet
Bu çalışmada, elektronların bir elektron kaynağından salınması ile başlayıp sinkrotron ışınımı elde edilmesine kadarki birbirini izleyen adımları kapsayan genel bir bakış sunulmuştur. Üçüncü nesil ışınım kaynaklarının ana karakteristikleri ve temel bileşenleri ile farklı eklenti aygıtlarının ışınım karakteristikleri de tartışılmıştır. Tipik bir sert X-ışını sinkrotron demet hattının kısaca tasvirinden sonra, rezonans olmayan inelastik sert X-ışını tekniği olan, sinkrotron ışınımına dayalı X-ışını Raman saçılma spektroskopisi açıklanmıştır. Son olarak, DESY-PETRA III sinkrotronundaki X-ışını Raman spektrometresi kullanılarak, 10 keV enerjide 0.8 eV çözünürlükle kaydedilen sıvı fazdaki suyun oksijen K-soğurma sınırı spektrumu sunulmuş ve literatürde geleneksel X-ışını soğurma spektroskobisi ile ölçülen spektrum ile karşılaştırılmıştır. Anahtar Kelimeler: Sinkrotron ışınımı, Depolama halkası, Demet hattı, Üçüncü nesil ışınım kaynağı, Inelastik X-ışını saçılması, X-ışını Raman saçılma spektroskopisi
In the present study, a general overview covering the consecutive steps, starting with therelease of electrons from an electron source until the generation of synchrotron radiation, is presented. Abrief introduction regarding the main characteristics and fundamental components of third generationlight sources as well as the radiation characteristics of different Insertion Devices are discussed.Following a concise description of a typical hard X-ray synchrotron beamline, synchrotron radiationbased X-ray Raman scattering spectroscopy, which is a non-resonant inelastic hard X-ray technique, isexplained. Finally, liquid water oxygen K-edge absorption spectrum recorded with a resolution of 0.8 eVat 10 keV utilizing X-ray Raman spectrometer at PETRA III facility of DESY is presented andcompared to the spectrum from the literature measured by conventional X-ray absorption spectroscopy