A Detailed Study on Thickness Calculation of (Cu, Al, In)-Doped SnO2 Thin Films Using A Simple Analysis Method
2. International Conference on Material Science and Technology in Cappadocia (IMSTEC 2017), Türkiye, 11 - 13 Ekim 2017, (Özet Bildiri)
- Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
- Basıldığı Ülke: Türkiye
- Ankara Üniversitesi Adresli: Evet