A Detailed Study on Thickness Calculation of (Cu, Al, In)-Doped SnO2 Thin Films Using A Simple Analysis Method
Atıf İçin Kopyala
GÜRAKAR S., SERİN S. T.
2. International Conference on Material Science and Technology in Cappadocia (IMSTEC 2017), Türkiye, 11 - 13 Ekim 2017
-
Yayın Türü:
Bildiri / Özet Bildiri
-
Basıldığı Ülke:
Türkiye
-
Ankara Üniversitesi Adresli:
Evet