Investigation of LaMn2-xFexSi2 (0 <= x <= 1.2) by Magnetic Measurements and Neutron Diffraction

Elerman Y., ELMALI A., Dincer I., Ehrenberg H., Fuess H., Daoud-Aladine A.

ACTA CRYSTALLOGRAPHICA A-FOUNDATION AND ADVANCES, cilt.61, 2005 (SCI-Expanded)

• Yayın Türü: Makale / Özet
• Cilt numarası: 61
• Basım Tarihi: 2005
• Doi Numarası: 10.1107/s0108767305083583
• Dergi Adı: ACTA CRYSTALLOGRAPHICA A-FOUNDATION AND ADVANCES
• Derginin Tarandığı İndeksler: Science Citation Index Expanded (SCI-EXPANDED)
• Anahtar Kelimeler: rare-earth manganese silicides, layered structure, neutron diffraction
• Açık Arşiv Koleksiyonu: AVESİS Açık Erişim Koleksiyonu
• Ankara Üniversitesi Adresli: Evet