Değişen madde fonksiyonunu kontrol altına almada çok boyutlu madde tepki kuramı modellerinin kullanımı


Tezin Türü: Doktora

Tezin Yürütüldüğü Kurum: Ankara Üniversitesi, Eğitim Bilimleri Enstitüsü, Eğitim Bilimleri, Türkiye

Tezin Onay Tarihi: 2023

Tezin Dili: Türkçe

Öğrenci: HATİCE GÜRDİL

Danışman: Ergül Demir

Açık Arşiv Koleksiyonu: AVESİS Açık Erişim Koleksiyonu

Özet:

Bu çalışmanın amacı, farklı simülasyon koşularında Değişen Madde Fonksiyonu (DMF) gösteren maddeler nedeniyle tek boyutluluğun sağlanamadığı testlerde, Tek Boyutlu (TB) ve Çok Boyutlu Madde Tepki Kuramı (ÇBMTK) kestirimlerinin DMF'yi kontrol altına almaya yönelik etkilerinin incelenmesidir. Çalışmanın amacı doğrultusunda boyut sayısı (2, 3), DMF yüzdesi (%10, %20, %30), DMF büyüklüğü (küçük, büyük) ve DMF türü (tek biçimli, tek biçimli olmayan) olmak üzere döngüsel olarak 2x3x2x2=24 farklı deneysel koşul için 24x100 tekrar=2400 farklı veri seti üretilmiştir. Boyut sayısının, DMF yüzdesinin, DMF büyüklüğünün ve DMF türünün değişimlenmesine bağlı olarak; DMF belirleme tekniklerinin (Lojistik Regresyon-LR, Simultaneous item bias test-SIBTEST, Lord'un χ2) performanslarını değerlendirmek üzereTip I hata ve istatistiksel güç oranlarındaki farklılaşmalar incelenmiştir. Verilerin üretiminde, Tek ve Çok Boyutlu MTK'ya dayalı yetenek parametrelerinin kestiriminde, DMF analizlerinin yapılmasında, Tip I hata ve istatistiksel güç oranlarındaki farklılaşmaların incelenmesinde ve grafiklerin çiziminde R programlama dili kullanılmıştır. Simülasyon koşullarına bağlı olarak üretilen veriler için MTK varsayımları kapsamında boyutluluk ve model-veri uyumu analizleri yapılmıştır. Buna ek olarak simülasyon verilerinin geçerliği için DMF içerecek şekilde üretilen verilerin istenilen DMF yüzdesi, büyüklüğü ve biçimini sağlama durumları incelenmiş, istatistiksel ve mantıksal kontrolleri yapılmıştır. TB ve TBO DMF türleri için ayrı ayrı olmak üzere, simülasyon koşullarının her birinde Tek ve Çok Boyulu MTK kestirimlerine yönelik DMF analizlerinin Tip I hata ve istatistiksel güç oranlarındaki farklılaşmaları incelenmiştir. Farklılaşmaların belirlenmesinde Faktöriyel ANOVA analizi yapılmıştır. Analiz sonucunda TB ve TBO DMF türü için, çok boyutlu kestirim yöntemi ile tek boyutlu kestirim yöntemine göre daha düşük Tip 1 hata değerleri ve daha yüksek istatistiksel güç değerleri elde edilmiş; elde edilen farkların manidar ve yüksek düzey etkiye sahip olduğu sonucuna ulaşılmıştır. Elde edilen bu sonuç çok boyutlu kestirimlerin, tek boyutlu kestirimlere göre düzeltilmiş puan elde edilmesinde daha etkili olduğu şeklinde yorumlanabilmektedir. Gerçek veri analizinde de tek ve çok boyutlu kestirimlere ait Tip I hata ve istatistiksel güç oranları arasında, çok boyutlu kestirim lehine manidar farklılıklar olduğu sonucuna ulaşılmıştır. Elde edilen sonuçlar birlikte değerlendirildiğinde çok boyutlu kestirimlerin, tek boyutlu kestirimlere göre düzeltilmiş puan elde edilmesinde etkili olduğu görülmüştür. Diğer bir ifadeyle çok boyutlu kestirimlerin DMF'yi kontrol altına almada, tek boyutlu kestirimlerden daha etkili olduğu ve bu sonucun gerçek verilerle desteklendiği söylenebilmektedir. Bu kapsamda DMF kaynaklı çok boyutlu olan uygulanmış bir testte madde çıkarmadan çok boyutlu kestirim yapılarak düzeltilmiş toplam puan elde edilmesi önerilmektedir. Buna ek olarak TB ve TBO DMF türü için; DMF büyüklüğünün artması; TB DMF türü için ise DMF yüzdesi artması çok boyutlu kestirim Tip I hata oranları üzerinde daha fazla düzeltme sağlamaktadır. Hem TB hem de TBO DMF türü için; DMF büyüklüğü ve boyut sayısı arttıkça; TBO DMF türü içinse DMF yüzdesi arttıkça çok boyutlu kestirim istatistiksel güç oranları üzerinde daha fazla düzeltme sağlamaktadır. Bu sonuçlara ek olarak TB ve TBO DMF türü için; çok boyutlu kestirim sonucu tüm DMF belirleme tekniklerinde tek boyutlu kestirimden daha düşük Tip I hata ve daha yüksek istatistiksel güç oranları elde edilmiştir. Bir diğer sonuç olarak; tek boyutlu kestirimde belirlenen koşulların alt düzeyleri arasındaki farklılıklar belirginken çok boyutlu kestim sonucunda farklılıklar azalarak düzeyler birbirine benzer çalışmaktadır.