APF jelı̇n farklı bulk-fı̇ll kompozı̇t materyallerı̇n yüzey pürüzlülüğüne etkı̇sı̇


Tezin Türü: Diş Hekimliğinde Uzmanlık

Tezin Yürütüldüğü Kurum: Ankara Üniversitesi, Diş Hekimliği Fakültesi, Klinik Bilimler Bölümü, Türkiye

Tezin Onay Tarihi: 2019

Tezin Dili: Türkçe

Öğrenci: AHMET ORHUN KARACAN

Danışman: PERİHAN ÖZYURT

Açık Arşiv Koleksiyonu: AVESİS Açık Erişim Koleksiyonu

Özet:

Çalışmamızda APF jelin 4 farklı bulkfill kompozit ve 1 adet konvansiyonel kompozitin yüzey pürüzlülüğüne etkisi incelenmiştir. Çalışmamızda 4 farklı bulkfill kompozit (3M ESPE, St.paul,USA), X-tra fil (VOCO, Cuxhaven, GERMANY), Admira Fusion X-tra(VOCO, Cuxhaven, GERMANY), Grandio So X-tra (VOCO, Cuxhaven, GERMANY) ve 1 adet konvansiyonel kompozit (Kuraray, Okayama, JAPAN) kullanılmış, her kompozitten bir grup hazırlanacak şekilde 5 grup kompozit disk örnek hazırlanmıştır. Profilometre cihazı(Mahr M2 Profilometer Mahr GmbH, Göttingen, GERMANY) ile yüzey pürüzlülüğü ölçülmüştür. Bu ölçümlerde her bir örnek için 3 farklı noktadan 3 adet yüzey pürüzlülüğü ölçümü alınmış ve bu 3 ölçümün ortalaması kaydedilmiştir. Örneklerin ışıklanan yüzeylerine flor jel(Sultan Topex Topikal A.P.F. Jel, %1.23 APF, Englewood, USA) 30 dakika uygulanmıştır. Kompozit disklerin üzerindeki flor jel 30 saniye distile suda temizlenmiş, 2 dakika ultrasonik temizleyici (Sultan Pro-Sonic 600, Englewood , USA) cihazda bekletilmiştir. Her bir örnek için 3 farklı noktadan 3 adet yüzey pürüzlülüğü ölçümü alınmış ve bu 3 ölçümün ortalaması kaydedilmiştir. Çalışmamızda disk ile bitim yapıldıktan sonra ilk yüzey pürüzlüğü ölçümleri yapıldığında bütün gruplar arasında yüzey pürüzlüğü açısından anlamlı bir fark bulunmaktadır. Yüzey pürüzlüğüne etki mekanizması esas olarak florun hidrojenle reaksiyonu sonucu açığa çıkan hidroflorik asit olduğu düşünüldüğü için nötral flor jeller yada flor cila kullanılması yüzey pürüzlülüğüne etksisi açısından daha sağlıklı olacağı düşünülmektedir. Daha önce profilometre ile yapılan bir çalışmada, doldurucuların 1 mikrondan daha küçük olması durumunda, yüzey pürüzlülüğündeki değişikliklerin belirgin bir şekilde tespit edilemediği bildirilmiştir. Bu yüzden gelecek çalışmaların yapılmasında Atomic Force Microscopy kullanılması önerilmektedir.