Tezin Türü: Yüksek Lisans
Tezin Yürütüldüğü Kurum: Ankara Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, Türkiye
Tezin Onay Tarihi: 2009
Tezin Dili: Türkçe
Öğrenci: ERHAN ERDOĞAN
Danışman: MEHMET EMİN CANDANSAYAR
Özet:Normal 0 21 false false false TR X-NONE X-NONE MicrosoftInternetExplorer4 Doğru akım özdirenç vemanyetotellürik yöntemler yer içinin özdirenç dağılımını belirlemektekullanılan jeofizik yöntemlerdir. Veri toplanan sahanın yüzey topoğrafyasıölçülen veriye bozucu bir şekilde etki etmektedir. Ters çözüm sonucu güvenilirbir model elde edilebilmesi için, ölçülen verideki topoğrafya etkisininkuramsal veriye de eklenmesi gerekmektedir. Bu tez çalışmasında, doğru akımözdirenç ve manyetotellürik yöntemlerde, topoğrafya etkisinin 2B düz çözümeeklenmesi araştırılmıştır. Eliptik tipte diferansiyel denklem çözümünde, sonluelemanlar sayısal çözüm tekniği kullanılmıştır. Sonlu elemanlar yöntemindekullanılan model ağı esneme özelliğine sahiptir ve model ağı her türlü yüzeytopoğrafyasına göre şekillendirilebilir. Bu yöntemle yüzey topoğrafysı ek birhesaplama zamanı gerektirmeden düz çözüme eklenebilir. Topoğrafyanın düz çözümeeklenmesinde kullanılan bir diğer yöntem ise, havayı temsil eden yükseközdirençli blokların modele eklenmesidir. Bu tez çalışmasında söz konusu ikiyöntemde uygulanmış ve sonuçları karşılaştırılmıştır. Yapılan modelleme çalışmalarıile topoğrafyanın fiziksel etkisi, farklı modeller üzerinde incelenmiştir.Doğru akım özdirenç yönteminde, görünür özdirenç değerleri düşey çözünürlüğüyüksek Wenner-Schlumberger ve yanal süreksizliklere karşı duyarlı dipol-dipolelektrot dizilimleri için hesaplanmış ve topoğrafya etkisi incelenmiştir.Manyetotellürik yöntemde ise topoğrafya etkisinin daha fazla görüldüğü yüksekfrekanslar için modelleme çalışması yapılmış, TE- ve TM-modu verileri içintopoğrafya etkisi incelenmiştir.AbstractDirect current resistivity and magnetoltelluric methods are commonly used geophysical methods for determining the resistivity distribution of the earth. In both of these methods, data are generally acquired along line and interpreted by 2D inversion algorithms. In data acquisition, the surface topography is usually not flat and the undulated topographic surfaces damage the measured data. These topographic effects must be incorporated into forward solutions to generate more accurate inverted models. In this study, incorporation of topography into two dimensional direct current resistivity and magnetotelluric forward solution is examined. Finite element numerical method is used for solving the elliptic type differential equations. The finite element modeling mesh is flexible and it can be distorted with respect to the surface topography. Any undulated surface topography can be simulated by using flexible finite element mesh. Also the topography effect was simulated by representing the air portion of the mesh. The modeling studies are clearly showed the physical effect of topography. In direct current resistivity method, apparent resistivities are calculated for dipole-dipole array, which provides better lateral resolutions and also Wenner-Schlumberger array, which is more suitable for resolving the resistivity changes with depth. In magnetotelluric method we used high frequencies, which are more sensitive to the topographic effects and examined them for both TE- and TM-modes.