AlFe2B2 ince filmlerinin yapısal, manyetik ve elektronik özelliklerinin incelenmesi
Tez Türü: Yüksek Lisans
Tezin Yürütüldüğü Kurum: Ankara Üniversitesi, Mühendislik Fakültesi, Fizik Mühendisliği Bölümü, Türkiye
Tez Danışmanı: Şinasi Barış Emre
Tezin Onay Tarihi: 2022
Tezin Dili: Türkçe
Özet:
Bu tez çalışmasında, AlFe2B2 metal borür alaşımı argon atmosferi altında ve oda sıcaklığında kompozisyonal hedef kullanılarak SiO alttaşlar üzerinde dc manyetik alanda sıçratma yöntemiyle üretilmiştir. Elde edilen ince filmlerin istenilen kompozisyonlarda üretildiğini tespit etmek için X-ışını spektrometresi kullanılmıştır. İnce filmlerin kristal yapısını öğrenebilmek amacıyla Cu Kα kaynaklı X-ışını kırınımmetresi kullanılmıştır. Manyetik özelliklerinin karakterize edebilmek amacıyla titreşimli örnek manyetometresi kullanılmıştır. Çıkan sonuçlara göre ince film üretiminde istenilen yapının elde edilebilmesinin güç ve basınç değerlerine doğrudan bağlantılı olduğu gözlemlenmiştir. Buna göre belirli bir güç ve basınç değerinde üretilen filmde AlFe2B2 fazına rastlanmışken, parametrelerde ufak değişiklikler yapıldığında AlFe2B2 fazına rastlanmayıp elementlerin sadece oksitli ara fazları görülmüştür. X-ışını fotoelektron spektrometre ölçümlerine göre sadece 1 nolu örnekte AlFe2B2 fazına rastlanmış olup 2 ve 3 nolu örneklerde AlFe2B2 fazına rastlanmamıştır. Bununla beraber oda sıcaklığında yapılan X-ışını kırınım deneylerine göre ise 3 örnek içinde elementlerin oksitli ara fazları gözlemlenmiştir. Titreşimli örnek manyetometresi ölçümlerine göre 1 nolu örndeği oda sıcaklıpı yakınlarında manyetik faz geçişi yaptığı, 2 ve 3 nolu örneklerde herhangi bir faz geçişi olmadığı gözlemlenmiştir.